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高精度浊度分析测定仪技术参数
浏览次数:4发布日期:2026/5/19

高精度浊度分析测定仪技术参数

点击次数:4 发布时间:2026/5/19
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高精度浊度分析测定仪,光学系统具有自动调整功能,无需频繁校准。您可以根据测量样品特性和精度要求,选择常规测量,连续测量或平均测量模式。浊度测量范围为0.00 to 1000NTU,仪器标配校准组,您可以随时进行各个测量参数的快捷校准。仪器具有GLP良好实验室管理功能,您可以查阅末次校准的各种相关信息:校准点,校准时间等。用户友好界面设计,显示提示信息,为您提供逐步操作指南。仪器具有优良存储功能,200个内置数据存储空间,并可以对存储数据随时进行调阅。同时,如果您选购数据分析软件和数据线,还可以将存储数据通过RS232或USB数据接口传输到PC,进行进一步数据分析。

技术参数:

型号

HI 98703

浊度量程

 0.00 to 9.99 NTU;10.0 to 99.9 NTU; 100 to 1000 NTU

精度

 读数的±2% +0.02 NTU

重现性

 读数的±1% 或0.02 NTU,,取较大者

测量模式

 普通测量,连续测量,平均测量

光学系统

钨灯光源,硅光电池

校准方式

<0.1,15,100,750 NTU,2-4点自动校准

测量标准

USEPA 180.1 和 US standard Method 2130B

数据存储

200组测量数据,USB和RS232数据接口与电脑连接(需选购数据线及软件)

 供电方式 

 4 x 1.5V AA电池或12Vdc电源适配器

 使用环境 

0 to 50°C (32 to 122°F);RH max 95%无冷凝

 尺寸重量 

224 x 87 x 77 mm;512 g


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